1. An introduction to logic circuit testing /
پدیدآورنده : Parag K. Lala
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Digital electronics-- Testing,Electric fault location,Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,Logic circuits-- Testing
2. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده : Lala, Parag K.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع : Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration,Testing ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits - Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
3. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده : Lala, Parag K.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
4. Fault tolerant and fault testable hardware design
پدیدآورنده : Parag K. Lala
موضوع : Electronic digital computers- Reliability,Fault-tolerant computing
۴ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
5. Fault tolerant and fault testable hardware design
پدیدآورنده : Lala, Parag K.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Reliability ، Electronic digital computers,، Fault-Tolerant computing
رده :
TK
7888
.
3
.
L27
1985
6. Fault tolerant & fault testable hardware design
پدیدآورنده : LALA,PARAG K
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : ELECTRONIC DIGITAL COMPUTERS-RELIABILITY , FAULT-TOLERNT COMPUTING
رده :
TK
7888
.
3
.
L27
7. Principles of modern digital design
پدیدآورنده : Lala, Parag K.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : ، Logic design,Design and construction ، Logic circuits,، Digital electronics
رده :
TK
7868
.
L6
L3486
2007
8. Principles of modern digital design
پدیدآورنده : / Parag K. Lala
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Logic design,Logic circuit--Design and construction,Digital electronics
رده :
E-BOOK
9. Principles of modern digital design
پدیدآورنده : / Parag K. Lala
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Logic design,Logic circuits- Design and construction,Digital electronics
رده :
TK7868
.
L6L3486
2007
10. Self-checking and fault-tolerant digital design
پدیدآورنده : Lala, Parag K
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : Design and construction ، Electronic digital computers,، Fault-tolerant computing,، Logic design,، Sequential machine theory
رده :
TK
7888
.
3
.
L274
2001
11. Self-checking and fault-tolerant digital design
پدیدآورنده : Lala, Parag K., 8491-
کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)
موضوع : Design and construction ، Electronic digital computers,، Fault-tolerant computing,، Logic design,، Sequential machine theory
رده :
TK
7888
.
3
.
L2
12. Stem cells of renewing cell populations :
پدیدآورنده : edited by A. B. Cairnie, P. K. Lala, D. G. Osmond
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع : Leblond, C. P., (Charles Philippe),1910-,Cell differentiation, Congresses,Cell populations-- Congresses,Cell proliferation, Congresses,Stem cells-- Congresses,Cell Aggregation,Cell Differentiation,Cell Division,Hematopoietic Stem Cells
رده :
QH587
.
S73
13. مقدمه‌اي بر آزمون‌پذيري مدارهاي منطقي
پدیدآورنده : / پاراگ کي لالا,عنوان اصلي: An introduction to logic circuit testing, c2009.,لالا,Lala
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - گردش و امانت آقايان (خراسان رضوی)
موضوع : مدار‌های منطقی,Logic circuits,الکترونیک رقمی ,Digital electronics , -- آزمایش‌ها, -- آزمایش‌ها, -- Experiments, -- Experiments
رده :
۶۲۱
/
۳۹۵ ۰۷۸
ل
۲۳۱
م
14. مقدمه‌اي بر آزمون‌پذيري مدارهاي منطقي
پدیدآورنده : / پاراگ کي لالا,عنوان اصلي: An introduction to logic circuit testing, c2009.,لالا,Lala
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - گردش و امانت بانوان (خراسان رضوی)
موضوع : مدار‌های منطقی,Logic circuits,الکترونیک رقمی ,Digital electronics , -- آزمایش‌ها, -- آزمایش‌ها, -- Experiments, -- Experiments
رده :
۶۲۱
/
۳۹۵ ۰۷۸
ل
۲۳۱
م
15. مقدمه‌اي بر آزمون‌پذيري مدارهاي منطقي
پدیدآورنده : / پاراگ کي لالا,عنوان اصلي: An introduction to logic circuit testing, c2009.,لالا,Lala
کتابخانه: كتابخانه مركزی آستان قدس رضوی (ع) - تالار قفسه باز بانوان (خراسان رضوی)
موضوع : مدار‌های منطقی,Logic circuits,الکترونیک رقمی ,Digital electronics , -- آزمایش‌ها, -- آزمایش‌ها, -- Experiments, -- Experiments
رده :
۶۲۱
/
۳۹۵ ۰۷۸
ل
۲۳۱
م
